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JEOL:推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和JXA-iSP100马报

发布日期:2019-11-18 18:15   来源:未知   阅读:

  江西5A精品电脑学校资金面持续宽松,www.20442044.com,在钢、马报资料东方心经,汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中,电子探针显微分析仪(EPMA)用作研发和质量控制工具。此外,在学术领域,EPMA应用于地球与行星科学和材料科学,不仅涵盖矿物能源研究,而且涉及新型材料研究,从而为各种尖端研究做出贡献。随着EPMA应用的增加,EPMA用户需要具有高可操作性的简单快速的分析,同时也要在特定感兴趣区域保持高质量的痕量元素分析性能。

  为满足这些需求,从观察(光学和SEM图像)到分析,JXA-iHP200F和JXA-iSP100均支持与波长色散X射线光谱仪(WDS)、能量色散X射线光谱仪(EDS)、阴极发光(CL)及其他技术的无缝集成。

  JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统,而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析,结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析,以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛应用中的多样化分析。